throbber

`
`
`
`DECLARATION OF UMIT SEDGI
`
`I, UMIT SEDGI, pursuant to 28 U.S.C. § 1746, hereby declare as follows:
`
`1.
`
`I am a Freelance Vendor at TransPerfect, Inc.
`
`2.
`
`I submit this declaration to certify the accuracy of the English translation of the
`
`1997 O. Akar and T. Akin under 37 C.F.R. § 1.68..
`
`3.
`
`My statements are based on personal knowledge and my review of the 1997 O.
`
`Akar and T. Akin and its Turkish-to-English translation. If called as a witness about the facts
`
`contained in these statements, I could testify competently based on such personal knowledge
`
`and the investigation I have conducted.
`
`4.
`
`5.
`
`Attached as Exhibit A is a true and accurate copy of 1997 O. Akar and T. Akin.
`
`Attached as Exhibit B is a true and accurate copy of an English translation of
`
`1997 O. Akar and T. AkinUnder 37 C.F.R. § 1.68.
`
`6.
`
`Exhibit B is a true and accurate translation from Turkish into English of Exhibit
`
`A.
`
`7.
`
`All statements made herein of my own knowledge are true, and all statements
`
`made on information and belief are believed to be true. Further, I am aware that these statements
`
`are made with the knowledge that willful false statements and the like so made are punishable by
`
`fine or imprisonment, or both, under 18 U.S.C. § 1001. I declare under penalty of perjury that to
`
`the best of my knowledge, the foregoing is true and correct.
`
`8.
`
`I also understand that by submitting this declaration I may be asked to appear for
`
`a deposition asking me questions limited to the material in my declaration. With my signature
`
`below, I agree to make reasonable efforts to make myself available for such a deposition at a
`
`reasonable place in the United States and time of my choosing.
`
`
`
`Abbott
`Exhibit 1027
`Page 001
`
`

`

`
`
`* * *
`
`I declare under penalty of perjury that the foregoing is true and correct to the best
`
`of my knowledge. Executed on May 9, 2019 in Spring Valley, New York.
`
`
`
`
`
`
`
`
`
`
`
`
`
`
`
`
`
`
`
`
`UMIT SEDGI
`
`
`
`
`
`
`
`
`
`
`
`
`
`Abbott
`Exhibit 1027
`Page 002
`
`

`

`EXHIBIT A
`
`EXHIBIT A
`
`
`
`Abbott
`Exhibit 1027
`Page 003
`
`

`

`TMMOB ELEKTRİK MÜHENDİSLERİ ODASI
`
`'/>-•
`
`•
`
`\
`
`TMMOB
`ELEKTRİK MÜHENDİSLERİ ODASI
`ANKARA ŞUBESİ
`
`ODTÜ
`ELEKTRİK -ELEKTRONİK
`MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ
`
`TÜBİTAK
`
`Abbott
`Exhibit 1027
`Page 004
`
`

`

`ÖNSÖZ
`
`TBMMO Elektrik Mühendisleri Odası Elektrik-Elektronik-Bilgisayar Mühendisliği 7
`Ulusal Kongresini ve Sergisini Orta Doğu Teknik Üniversitesi'nde gerçekleştirmiş
`olmaktan onur ve sevinç duymaktayız. Üniversite olarak kongreye ikinci kez evsahipliği
`yapmamız bizi fazlasıyla mutlu etmiştir, ama mutluluğumuz asıl geçen süre içinde
`Odamızın, meslek yaşamımızın ve Üniversitemizin ne kadar
`gelişmiş olduğunu
`gözlemekten kaynaklanmaktadır.
`
`Gerçekten de ilgi alanlarımızın çeşitlenmesi, bu alanlarda belli bir beceriye ulaşılmış olması,
`eskiden güçlü olduğumuz dallarda da gücümüzün sürmesi Elektrik-Elektronik ve
`Bilgisayar Mühendislerimizin ülke genelinde giderek daha fazla söz sahibi olmaları
`olgusunu yaratmaktadır. Bireysel başarılarımızın kurumlanmızı da ülke ekonomisi ve
`gelişmesi bakımdan güçlendirmekte olduğu açıktır. Nitekim bu sektörlerde faaliyet
`gösteren kuruluş sayısı hızla artmaktadır. Bu sayısal gelişmenin nitelik bakımından da aynı
`hızla sürdüğünü görmek sevindiricidir. Kongremiz ve sergimiz bunun en somut kanıtını
`oluşturmaktadır.
`
`2000Mİ yılların Türkiye'sinin ihtiyaçlarını yakahyabilmek için daha çok şeyler yapılması
`gerekmektedir. Endüstri-Eğitim Kurumlan ve Meslek Odaları arasındaki iletişim ve
`karşılıklı etkileşimi güçlendirmek gerekmektedir. Bu geçmişe oranla daha sevindirici bir
`düzeyde sürüyor da olsa henüz gelişmiş ülkelerdeki başarılı örneklerin uzağındadır.
`Önümüzdeki yularda bu konuda daha fazla çabaya ihtiyaç vardır.
`
`Tüm katılımcılara Kongre ve Sergimize vermiş oldukları güç için teşekkür ediyorum.
`Sizleri Üniversitemizde görmenin kıvancıyla selamlıyor saygılarımı sunuyorum.
`
`Prof. Dr. Fatik Canatan
`Yürütme Kurulu Başkanı
`
`Abbott
`Exhibit 1027
`Page 005
`
`

`

`ELEKTRİK-ELEKTRONİK-BİLGİSAYAR MÜHENDİSLİĞİ
`7. ULUSAL KONGRESİ
`
`YÜRÜTME KURULU
`
`Fatih CANATAN (Başkan, ODTÜ)
`
`M. Mete BULUT (ODTÜ)
`Cengiz BEŞİKÇİ (ODTÜ)
`Gönül SAYAN (ODTÜ)
`Cemil ARIKAN (TÜBİTAK)
`M. Hacim KAMOY (ASELSAN)
`Hüseyin ARABUL (BARMEK)
`Aydın GÜRPINAR (ENERSİS)
`
`M. Asım RASAN (EMO)
`Cengiz GÖLTAŞ (EMO)
`H. Ali YİĞİT (EMO)
`Kubilay ÖZBEK (EMO)
`M. Sıtkı Çiğdem (EMO)
`Funda BAŞARAN (EMO)
`Mustafa ÖZTÜRK (EMO)
`
`EDİTÖRLER
`
`Fatih CANATAN
`
`Mehmet Mete BULUT
`
`Abbott
`Exhibit 1027
`Page 006
`
`

`

`ENDÜSTRİYEL VE BİYOMEDİKAL UYGULAMALAR İÇİN
`SİLİSYUM MİKROİŞLENMİŞ KAPASİTİF BASINÇ SENSÖRÜ
`
`Orhan Ş. AKAR* ve Tayfun AKIN* **
`*TÜBİTAK-BİLTEN, Orta Doğu Teknik Üniversitesi
`"Orta Doğu Teknik Üniversitesi, Elektrik Elektronik Mühendisliği Bölümü
`
`ABSTRACT
`This paper reports the design and fabrication of
`two
`type of micromachined capacitıve silicon
`pressure sensors
`for
`industrial and biomedical
`applications. The dynamic ranges of the sensors
`designed for industrial applications vary between 0-
`50mmHg and 0-1200mmHg. Sensors are batch
`fabricated usıng silicon micromachıning process and
`occupies an area of 0.4 x 0.6mm . We have
`measured 120fF capacitance changes
`for 0-
`200mmHg
`range över 500fF
`zero pressure
`capacitance. The pressure sensor for biomedical
`applications can be implented in the body and can be
`monitored telemetrically without using any wire that
`breaks the skin.
`This is achieved by using the
`electroplated coil which is fabricated together with the
`pressure sensor. This implantable sensor measures
`1 5mm x 2.5mm x O.ömm in size and provides a
`dynamic range of OSOmmHg.
`
`ÖNBİLGİ
`Elektronik teknolojisinin temel taşı olan silisyum,
`mekanik ve elektrik özellikleri sayesinde günümüz
`CMOS entegre devre üretim teknolojisinin verdiği
`imkanlarla bugüne kadar yapılmış en küçük elektro-
`mekanik
`sistemlerin gerçekleştirilmesine olanak
`vermiştir. Bugün aynı malzeme üzerinde hem
`elektronik devreler hem de mekanik yapılar aynı anda
`gerçeklenebilmektedir. Bu sayede karmaşık sistemler
`bir kaç milimetrekarelik alanda ve çok ucuza
`geliştirilmektedir [1]. Bu küçük sistemler Mikro-
`Elektro-Mekanık-Sistemler
`(MEMS)
`olarak
`da
`adlandırılmaktadır Mikroişleme (micromachıning) ile
`gerçekleştirilen mikrosensörler, otomotiv endüstri-
`sinden mikrobiyolojiye, görüntü
`işlemeden uzay
`sanayisine kadar çeşitli alanlarda kullanılmaktadır.
`Mikroişleme
`ile üretilen bir çok basınç ve
`ivme
`sensörü
`(accelerometer)
`otomotiv
`sanayisinin
`ayrılmaz parçaları olmuştur. Örneğin, bir kaza anında
`otomobilin hava yastığının çalışması mikroişleme ile
`üretilmiş
`ivme sensörlerine dayanmaktadır. Ayrıca
`dalgıç tüplerinde, elde taşınabilir araba lastik basıncı
`ölçüm aletlerinde de mikroişlenmiş silisyum basınç
`sensörleri bulunmaktadır. Bu basınç sensörleri çok
`küçük üretilebildiğinden biyomedikal alanında da
`kullanılabilmektedir.
`Mikroişleme yöntemi ile basınç sensörleri yaygın
`olarak iki şekilde gerçeklenir: piezorezistif ve kapasitif
`basınç sensörü. Her iki yapıda da ana kısım esnek bir
`diyaframdır. Piezorezistif sensörde diyafram üzerine
`yerleştirilen direncin değeri, kapasitif sensörde
`ise
`
`diyaframın oluşturduğu kapasıtörun değeri diyaframın
`bükülmesi ile değişir. Bu değişimler sensore bağlanan
`bir elektronik devre yardımıyla elektriksel
`işarete
`dönüştürülür. Piezorezistif sensor geniş bir basınç
`aralığında doğrusal değişim gösterir ve çıkış direnci
`düşük olduğundan ölçüm
`için kuvvetlendirici bir ara
`devreye gerek duyulmaz. Ancak diyafram, üzerine
`yerleştirilen
`dirençlerden
`dolayı
`çok
`ince
`yapılamadığından, sensörün basınca karşı duyarlılığı
`düşüktür [2], Kapasitif sensor ise piezorezistif sensöre
`göre bazı avantajlara sahiptir. Kapasitif sensörde
`diyafram oluşturulması piezorezistif olanlara oranla
`daha kolaydır ve daha fazla esnektir. Yapının basınç
`hassasiyeti daha iyidir ve sıcaklığa karşı 10 kat daha az
`duyarlıdır.
`Algılayıcı
`kısım
`yalnız
`kapasitörden
`oluştuğundan güç harcaması oldukça düşüktür.
`Bunların yanında yüksek duyarlılık, düşük basınç
`aralığı ve uzun süre dayanıklılık göz önüne alındığında,
`kapasitif basınç sensörleri piezorezistif olanlara kıyasla
`daha yüksek performans gösterirler [3,4],
`Bu bildiride, ODTÜ'de tasarladığımız ve Mıchigan
`Üniversitesi'nin yarı-iletken
`laboratuvarında ürettiğimiz
`kapasitif basınç sensörleri anlatılmıştır. Bu sensörlerin
`bir kısmı endüstriyel uygulamalar için, diğer kısmı ise
`biyomedikal uygulamalar
`için geliştirilmiştir. Her
`ıkı
`sensor tipi, aynı fabrikasyon süreci
`içinde ve aynı
`maskeler kullanarak üretilmiştir.
`
`SİLİSYUM MİKROİŞLENMİŞ
`BASINÇ SENSÖRÜNÜN YAPISI
`Silisyum mikroişleme teknolojisi kullanılarak elde
`edilen basınç sensörlerinin yapısı Şekil 1 ve Şekil 2'de
`gösterilmiştir.
`Diyafram
`
`Katkılı silisyum
`
`Yalıtkan tabaka
`
`Şekil 1: Kapasitif basınç sensörünün kesit görüntüsü
`
`Şekil 1'de endüstriyel uygulamalarda kullanılacak
`kapasitif sensörün kesiti gösterilmiştir. Burada bor
`katkılaması ile belirlenmiş bir silisyum parça, bir cam
`taban üzerine yerleştirilmiştir. Cam üzerindeki metal
`alan, bor katkılanmış silisyum ve bu
`iki yüzey
`arasındaki 2um aralık bir kapasitör oluşturur. Şekil
`1'de iki tane kapasitör yapısı görülmektedir. Soldaki
`kapasitörde 6um kalınlığında
`ince bir diyafram
`bulunmaktadır. Bu diyafram bir basınç uygulandığında
`
`ELEKTRİK, ELEKTRONİK, BİLGİSAYAR MÜHENDİSLİĞİ 7. ULUSAL KONGRESİ
`
`Abbott
`Exhibit 1027
`Page 007
`
`

`

`bükülerek alttaki metale yaklaşmakta, bu da yapının
`kapasitans değerini arttırmaktadır. Bu sayede basınç
`değişimi kapasitans değişimine yol açmaktadır. Şekil
`1'de sağda bulunan kapasitördeki diyafram göreceli
`olarak kalın olduğu için (15um), basınç altında bu
`kapasitörde
`bir
`değişiklik
`olmamaktadır
`Bu
`kapasitörün kapasitans değeri basınç uygulan-
`madığında, soldaki değişen kapasitör ile aynıdır. Bu
`kapasitör bir referans kapasitörü olarak kullanılmakta
`ve elektronik okuma yapısında hassas okumaya
`imkan vermektedir [5].
`
`Şekil 2'de biyomedikal uygulamalar için geliştirilen
`basınç sensörünün kesiti görülmektedir Sensörün
`silisyum kısmının yapılışı ve kapasitans değişikliğinin
`prensibi bir önceki sensör yapısı ile aynıdır. Fakat bu
`sensörün cam kısmının
`içinde elektrokaplama
`(electroplating) metodu
`ile yerleştirilmiş bir bobin
`bulunmaktadır.
`
`I
`
`I
`
`l I
`
`Diyafram
`
`MI I
`
`il
`
`Silisyum
`
`SiO
`
`2
`
`KOH ile
`silisyum
`aşındırması
`
`SiO
`
`2
`
`15nm derin
`bor katkılaması
`
`2.5|im veya
`sığ bor
`katkılaması,
`diyafram
`oluşturma
`
`Kısa devre
`koruması için
`ince silisyum
`dioksit oluşturma
`
`ile birlikte üretilen kapasitif
`Şekil 2: Bobin yapısı
`basınç sensörünün kesit gösterimi ve karşılık gelen
`devre şeması.
`
`Bu bobin değişken kapasitörle bir LC rezonans
`devresi oluşturmaktadır.
`Bu devrenin rezonans
`frekansı kapasitörün değerine, başka bir deyişle
`basınca bağlıdır. Dolayısı
`ile, basınç değişikliğini
`ölçmek
`için LC devresinin titreşim
`frekansındaki
`değişimi ölçmek yeterlidir. Bu ise, dışarıdan bir LC
`devresi kullanılmasıyla mümkündür.
`Dışarıdaki
`rezonans devresinin
`bobini,
`sensör bobinine
`yaklaştırıldığında, bir endüktif bağlama (inductive
`coupling) sağlar. Bu sayede, vücut
`içindeki LC
`devresi vücut dışındaki LC devresini yükler. Bu
`yükleme en çok, vücut
`içindeki LC devresinin
`rezonans frekansında olur. Dolayısı ile vücut içindeki
`LC devresinin rezonans frekansı tel ara bağlantı
`kullanılmadan bir çeşit telemetri yöntemi ile ölçülür.
`Bu yöntem, bir tel bağlantısının olmaması ve derinin
`kesilmeden sinyal alış verişine izin vermesi açısından
`tercih edilmektedir [6,7].
`
`BASINÇ SENSÖRÜNÜN ÜRETİM SÜRECİ
`Kapasitif basınç sensörü silisyum ve cam pul
`(vvafer) üzerinde olmak üzere
`iki adımda üretilir.
`Üretim sırasında silisyum pul için 4, cam pul için 3
`maske kullanılmıştır.
`işlem adımları
`Şekil 3'de silisyum üzerindeki
`gösterilmektedir.
`İlk
`işlem, silisyum pul yüzeyi,
`diyaframı oluşturulacak bölge açıkta kalacak şekilde
`silisyum dioksit tabakası ile kaplanır. Fotorezist ile
`
`cam pul
`
`Elektrostatik
`yapıştırma ve
`silisyum
`aşındırması
`
`J
`
`Şekil 3: Kapasitif basınç sensörünün silisyum kısmı
`üretim aşamalarının kesit görünümü.
`
`maskelenerek belirlenen bu açıklıklardan silisyum pul
`yüzeyi
`potasyum
`hidroksit
`(KOH)
`çözeltisinde
`aşındırılır.
`Aşındırma
`işlemi kapasitörün
`levhaları
`arasındaki 2pm aralığı oluşturur. Daha sonra, diyafram
`kenarlarına
`destek
`olan
`bölgeler,
`silisyum
`pul
`yüzeyinden 15um derinliğe kadar yüksek yoğunlukta
`(5*1019 atom/cm3), bor katkı atomları ile katkılanarak
`oluşturulur. Bunun devamında diyafram bölgesi aynı
`işlemler yapılarak, diyafram
`kalınlığı 6um olacak
`şekilde bor atomları
`ile katkılanır.
`Diyaframın çok
`yüksek basınç altında aşırı bükülerek diğer
`levha
`ile
`kısa devre yapmasını önlemek amacıyla, diyafram
`yüzeyi çok ince bir oksit tabakası ile kaplanır. Bu işlem
`ile silisyum pul üzerindeki işlemler tamamlanır.
`
`ELEKTRİK, ELEKTRONİK, BİLGİSAYAR MÜHENDİSLİĞİ 7. ULUSAL KONGRESİ
`
`Abbott
`Exhibit 1027
`Page 008
`
`

`

`Cam Pul
`
`Camın
`aşındırılması
`
`Cr/Au metal
`tabaka
`büyütülmesi
`
`üzere 6 değişik basınç aralığı için 12 değişik sensör
`tasarlanmıştır.
`Tasarım
`parametrelerinden
`en
`önemlileri,
`sensörün
`çalışma
`aralığını
`belirliyen
`diyafram kalınlığı ve diyafram alanıdır [8,9]. Diyafram
`kalınlığı 6um olarak alınmıştır. Tablo 1, bu sensörlerin
`çalışma aralığını ve özelliklerini özetlemektedir. Farklı
`basınç aralıklarını ölçen 12 sensör, aynı maskelerle ve
`aynı üretim süreci içinde, 11.7 x 8.6mm2'lik bir alanda
`üretilmiştir.
`
`Tablo 1: Mikroişleme ile üretilmiş sensörlerin çalışma
`aralıkları, diyafram şekilleri ve kapasite değişimleri
`
`Kapasite
`değişimi (fF)
`370
`73
`185
`80
`150
`65
`180
`85
`340
`170
`170
`292
`
`Kablo bağlantı noktası
`\r*nfm
`\ m ı n O, nnnnrnı n

`'
`
`Au tabaka
`\ büyütülmesi
`
`Şekil 4: Telemetrik kapasitif basınç sensörünün cam
`kısmı üretim aşamalarının kesit görünümü.
`
`işlem adımları
`Şekil 4'de cam pul üzerindeki
`gösterilmektedir. İlk işlem, kablo bağlantı noktalarının
`(bonding pad) ve bobinin yerleştirileceği alanların
`8um aşındırıimasıdır. Daha sonra, kapasitörün diğer
`levhasını oluşturmak amacı ile, cam pul üzerine ince
`metal (Cr/Au) film büyütülür. Aynı sırada hem bu
`metal alana hem de bobin yapısına ve diyaframa
`ulaşmak amacı
`ile devre bağlantılarının yapılacağı
`metal hatlar da oluşturulur. Bu metal hatları
`şekillendirme işlemi kaldırarak-uzaklaştırma (lift-off)
`tekniği ile yapılır. Bu teknikte önce, metal kaplanacak
`yüzey dışında kalan alan
`ışığa duyarlı malzeme
`(fotorezist) ile maskelenir. Ardından tüm yüzey ince
`bir metal ile kaplanır ve son
`işlem olarak yapının
`tamamı özel bir çözelti
`içinde titreştirilerek,
`ışığa
`duyarlı malzemenin
`ve bunun üzerinde kalan
`metallerin yapıdan ayrılması sağlanır. En son olarak
`6um kalınlığındaki altın bobin yapısı elektrokaplama
`tekniği kullanılarak oluşturulur. Bu işlemlerden sonra
`cam ve silisyum pullar, camdaki metal alan
`ile
`silisyumdaki
`diyafram
`bölgesi
`hizalanarak
`elektrostatik olarak birbirine yapıştırılır. Elektrostatik
`yapıştırma, birbirine değen cam ve silisyumun 300-
`400°C 'ye kadar ısıtılıp, üzerine 1000 Volt civarında
`bir potansiyel farkı uygulanması ile gerçekleştirilir. Bu
`sırada cam üzerindeki metal hatlardan biri
`iletken
`silisyuma değer ve böylece kapasitörün silisyum
`üzerindeki levhasına da bağlantı yapılmış olur. En
`son aşamada diyaframın ortaya çıkması için yapının
`tamamı, katkılanmamış silisyumu aşındıran ve yoğun
`bir baz olan etilen-diyamin-payrokatekol
`(EDP)
`çözeltisine daldırılır.
`Yüksek bor katkısı aşındırıcı
`çözeltiye karşı direnç gösterir ve geri kalan
`katkılanmamış silisyum taban aşındırılarak, sensör
`yapısının ortaya çıkması sağlanır.
`
`KAPASİTİF BASINÇ SENSÖRÜ FABRİKASYONU
`VE TEST SONUÇLARI
`Yukarıda anlatılan üretim süreci kullanılarak,
`endüstriyel ve biyomedikal uygulamalarda kullanılmak
`
`ODTÜ'de tasarımı yapılan mikrosensörler grubumuz
`tarafından Michigan
`Üniversitesi'nin
`yarı-iletken
`laboratuvarında üretilmiştir. Endüstriyel uygulamalarda
`kullanılacak olan bir sensörün yakından görüntüsü
`Şekil 5'de gösterilmiştir. Şekil 6, aynı anda üretilmiş 12
`sensörün bir
`insan parmağı üzerindeki
`resmini
`göstermektedir. Şekil 7 ise, biyomedikal uygulamalarda
`kullanılacak
`olan mikrosensörün,
`cam
`kısmı
`görülmektedir. Bu cam kısımda elektrokaplama
`ile
`gerçekleştirilmiş bobin, kapasitörün bir
`levhasının
`etrafında görülmektedir. Bobin tellerinin kalınlığı 7um,
`yüksekliği 6um ve bobin telleri arasındaki uzaklık
`7um'dir. Bu bobinin değeri 0.48uH olarak hesaplanmış
`ve 0.58uH olarak ölçülmüştür. Tablo 2'de biyomedikal
`uygulamalarda
`kullanılacak olan mikrosensörlerin
`değişik parametreleri verilmiştir.
`
`Şekil 5: Üretilmiş bir basınç sensörünün yakından
`görüntüsü. Yapının boyutları 3900um x 1800um 'dir
`
`ELEKTRİK, ELEKTRONİK, BİLGİSAYAR MÜHENDİSLİĞİ 7. ULUSAL KONGRESİ
`
`Sensör
`
`Co (fF)( J)
`
`1480
`260
`740
`630
`1060
`500
`1200
`520
`2000
`2000
`1000
`4x260
`
`12345678
`
`10ı l)
`
`Diyafram
`Çalışma aralığı
`mmHg<2>
`^ekli
`0-75
`Kütleli daire
`0-1200
`Kütleli kare
`0-300
`Kütleli daire
`0-100
`Daire
`0-50
`Daire
`0-200
`Daire
`0-100
`Kare
`0-200
`Kare
`0-50
`Kare
`0-50
`Kare
`0-50
`Kare
`0-1200
`12
`Kütleli kare
`(1) içinde bobin ile gerçekleştirilmiştir.
`(2) 1Atm = 760 mmHg = 760 Torr = 101325 Paskal = 14.696 PSI
`(3) Sensör kapasitelerinin basınç uygulanmadığındaki değerleri
`
`Abbott
`Exhibit 1027
`Page 009
`
`

`

`Tablo 2: Sensör LC devre elemanlarının değerleri: C
`ve C. sıfır basınç ve maksimum basınç altındaki
`kapasite değerleri, Rp bobinin parazıtık direnç değendir.
`Parametre
`Sensör#9
`Sensör#10
`Sensör #11
`2004
`Co (fF)
`2004
`1002
`C (fF)
`2344
`2174
`1174
`0.84
`Lo(nH)
`0.78
`0 48
`R
`( W)
`47
`44
`31
`
`o
`
`P
`
`Şekil 6 Aynı anda üretilen 12 mikrosensörün
`bir insan parmağı üzerindeki görüntüsü.
`
`^ Milli
`-
`I:K ,
`Şekil 7: Cam pul üzerindeki bobin yapısı ve
`kapasitör levhasının resmi.
`
`için
`Şekil 8de 0-200mmHg basınç aralığı
`tasarlanmış olan basınç sensörünün basınca karşı
`kapasite değerinin doğrusal değişimi görülmektedir.
`Ölçülen kapasite değerlerinin yüksek olması ölçü
`düzeneğinin parazıtık etkilerinden kaynaklanmaktadır.
`
`Basınç (mmHg)
`
`Şekil 8: 0-200mmHg çalışma aralığı için tasarlanan
`basınç sensörünün kapasite-basınç değişimi grafiği.
`
`iyileştirilmesi ve sensörlerin
`Test düzeneğinin
`detaylı karakterızasyonlarının yapılması çalışmaları
`devam etmektedir Sensör ile beraber kullanılacak
`olan
`kapasıtor
`ölçme
`devresinin
`tasarımı
`tamamlanmıştır ve üretim aşamasındadır Telemetrık
`basınç sensörlerının uzaktan algılama devreleri
`üzerindeki çalışmalar devam etmektedir
`
`SONUÇLAR
`Endüstriyel ve bıyomedikal uygulamalar için silisyum
`mikroişleme yöntemi
`ile gerçekleştirilmiş kapasitif
`basınç sensörlerı ODTÜ'de
`tasarlanarak Mıchigan
`Üniversitesı'nin yarı-ıletken laboratuvarında üretilmiştir.
`Üretilen sensörler bir ölçüm düzeneği kurularak test
`edilmiştir. Basınç sensörlerinın kapasitör değerleri
`tasarlanan çalışma aralıklarında doğrusal değişim
`göstermektedir.
`Burada
`gerçekleştirilen
`basınç
`sensörlerı Türkiye'de Mikro-Elektro-Mekanik-Sistemler
`(MEMS) konusundaki ilk çalışmalardır.
`
`TEŞEKKÜR
`Bu çalışma, NATO istikrar Bilim Programı (Science
`for Stability Programme) tarafından desteklenen ve
`kısa adı TU-MICROSYSTEMS olan projenin bir
`parçasıdır. Çalışma aynı zamanda NSF International
`Grant
`(REF:
`INT-9602182) programı
`tarafından
`Michigan Üniversitesinden Prof. Khalil NAJAFI ve
`ODTÜ'den Yrd Doç Dr Tayfun AKIN'a AB D -Türkiye
`Ortak Araştırmaları çerçevesinde sağlanan yardım ile
`de desteklenmektedir. Yazarlar endüstriyel öneriler ve
`ölçü düzeneğine olan katkılarından dolayı ELİMKO Ltd.
`Şti. 'ne teşekkür eder.
`
`KAYNAKÇA
`[1] K. Najafi, "Smart Sensors," Journal of Micromechanics
`and Microengineering, vol.1, pp. 86-102, Feb.1991.
`[2] S. M. Sze, Semıconductor Sensors, VViley, 1994.
`[3] VVH.Ko, M. Bao, and Y. Hong, "A Hıgh-Sensitivity
`Integrated-Cırcuit Capacitive Pressure Sensör,"
`IEEE
`Trans. Electron Devices, vol. 29, pp. 48-56, Jan. 1982.
`[4] VV.H.Ko, "Solid-State Capacitive Pressure Transducers,"
`Sensors and Actuators, vol 10, pp. 303-320, 1986.
`[5] Y. E. Park and K. D. Wise, "An MOS Svvitched-Capacitor
`Readout Amplifier for Capacitive Pressure Sensors,"
`IEEE Proceedings of The Custom Integrated Circuit
`Conference, pp. 380-384, May 1983.
`[6] L. Rosengren, Y. Bâcklund, T. Sjöström, B. Hök, and B.
`Svedbergh,
`"A System
`for VVİreless
`Intra-Ocular
`Pressure Measurements Using a Silicon Micromachined
`Sensor,"
`Journal
`of
`Micromechanics
`and
`Microengineering, vol.1, pp. 202-204, March 1991.
`[7] W. N. Carr, S. Chanmarti, and X. Gu, "Integrate
`Pressure Sensor with Remote Power Source and
`Remote Readout," Digest, Int. Conf. On Solid-State
`Sensors & Actuators (TRANSDUCERS'95), pp. 624-
`627, Stockholm, Svveden, June 1995.
`[8] S. Timoshenko and S. Woınowsky-Kreiger, Theory of
`Plates and Shells, McGraw-Hill. New York, 1959.
`[9] H. L. Chau and K. D. Wise, "Scalıng Lımits in Batch-
`Fabricated Silicon Pressure Sensor,"
`IEEE Trans.
`Electron Devices, vol. ED-34, pp. 850-858, April 1987.
`
`ELEKTRİK, ELEKTRONİK, BİLGİSAYAR MÜHENDİSLİĞİ 7. ULUSAL KONGRESİ
`
`Abbott
`Exhibit 1027
`Page 010
`
`

`

`EXHIBIT B
`
`EXHIBIT B
`
`
`
`Abbott
`Exhibit 1027
`Page 011
`
`

`

`TMMOB CHAMBER OF ELECTRICAL
`ENGINEERS
`ELECTRICAL AND
`ELECTRONICS COMPUTER
`ENGINEERING 7th NATIONAL
`CONGRESS
`
`TMMOB [Union of Chambers
`of Turkish Engineers and
`Architects]
`CHAMBER OF ELECTRICAL
`ENGINEERS ANKARA
`BRANCH
`
`
`
`ODTÜ
`DEPARTMENT OF
`ELECTRICAL AND
`ELECTRONICS
`ENGINEERING
`
`TUBITAK
`[Scientific
`and
`Technolog
`ical
`Research
`Council of
`
`Turkey]
`
`Abbott
`Exhibit 1027
`Page 012
`
`

`

`FOREWORD
`
`We are honored and pleased to have held the 7th National Congress and Exhibition of TMMOB
`Chamber of Electrical Engineers Electrical-Electronics-Computer Engineering at Middle East
`Technical University. As the university, we were more than happy to host the congress for the
`second time, but our happiness is due to the fact that our Chamber, our professional life and our
`university have improved.
`
`Indeed, the diversification of our areas of interest, the achievement of certain levels in these fields,
`the continuation of our strength in the branches that we’ve been strong creates a phenomenon that
`our Electrical-Electronics and Computer Engineers have an increasing influence throughout the
`country. It is clear that our individual achievements are strengthening the institutions in terms of
`the economy and development of the country. As a matter of fact, the number of organizations
`operating in these sectors is increasing rapidly. It is pleasing to see that the development in
`numbers is parallel to the speed of improvement in terms of quality. Our congress and exhibition
`are the most concrete evidence of this.
`
`More things are required to be done to meet the needs of Turkey in 2000s. It is necessary to
`strengthen the communication and mutual interaction between Industry-Education Institutions
`and Professional Chambers. Although the development continues to be more pleasing than in the
`past, it is still far from successful examples in developed countries. More efforts are needed in
`this regard in the forthcoming years.
`
` would like to thank all the participants for their support to our Congress and Exhibition. I greet
`you with the pleasure of seeing you at our university.
`
`
`
`
`Professor Dr. Fatik Canatan
`Chairman of the Executive Board
`
`
`
` I
`
`Abbott
`Exhibit 1027
`Page 013
`
`

`

`ELECTRICAL-ELECTRONICS-COMPUTER ENGINEERING
`7th NATIONAL CONGRESS
`
`
`
`
`
`
`
`EXECUTIVE COMMITTEE
`
`
`Fatih CANATAN (President, ODTU)
`
`
`M. Mete BULUT (ODTU)
`Cengiz BEŞİKÇİ (METU)
`Gönül SAYAN (ODTU)
`Cemil ARIKAN (TUBITAK)
`M. Hacim KAMOY (ASELSAN)
`Hüseyin ARABUL (BARMEK)
`Aydın GÜRPINAR (ENERSİS)
`
`M. Asım RASAN (EMO)
`Cengiz GÖLTAŞ (EMO)
`H. Ali YİĞİT (EMO)
`Kubilay ÖZBEK (EMO)
`M. Sıtkı Çiğdem (EMO)
`Funda BAŞARAN (EMO)
`Mustafa ÖZTÜRK (EMO)
`
`
`
`
`
`
`
`
`
`
`
`
`
`
`
`EDITORS
`
`
`Fatih CANATAN
`
`Mehmet Mete BULUT
`
`
`
`
`
`Abbott
`Exhibit 1027
`Page 014
`
`

`

`
`
`ABSTRACT
`This paper reports the design and fabrication of two
`type of micromachined capacitive silicon pressure sensors
`for industrial and biomedical applications. The dynamic
`ranges of the sensors designed for industrial applications
`vary between 0- 50mmHg and 0-1200mmHg. Sensors are
`batch fabricated using silicon micromachining process and
`occupies an area of 0.4 x 0.6mm. We have measured 120fF
`capacitance changes for 0- 200mmHg range over 500fF zero
`pressure capacitance. The pressure sensor for biomedical
`applications can be implemented in the body and can be
`monitored telemetrically without using any wire that breaks
`the skin. This is achieved by using the electroplated coil
`which is fabricated together with the pressure sensor. This
`implantable sensor measures 1 5mm x 2.5mm x O.ömm in
`size and provides a dynamic range of OSOmmHg.
`
`PRELIMINARY INFORMATION
`Silicon, which
`is
`the cornerstone of electronic
`technology, has enabled the actualization of the smallest
`electro-mechanical
`systems
`ever made with
`the
`opportunities of today's CMOS integrated circuit production
`technology thanks to its mechanical and electrical properties.
`Today, both electronic circuits and mechanical structures
`can be implemented on the same material at the same time.
`In this way, complex systems can be developed in a few
`millimeters area and very cheaply [1]. These small systems
`are
`also
`called Micro-Electro-Mechanics
`(MEMS).
`Microsensors, which are built with micromachining, are
`used
`in various fields from automotive
`industry
`to
`microbiology, image processing to space industry. Many
`pressure and acceleration sensors (accelerometers) produced
`by micromachining have become integral parts of the
`automotive industry. For example, the operation of a car's
`airbag at the time of an accident is based on acceleration
`sensors made by micromachining. There are also
`micromachined silicon pressure sensors in submersible
`tubes, hand-held car tire pressure gauges. Since these
`pressure sensors can be produced very small, they can also
`be used in biomedical fields.
`Pressure sensors with micromachining method are
`commonly implemented in two ways: piezoresistive and
`capacitive pressure sensor. In both structures, the main part
`is a flexible diaphragm. The value of the resistance placed on
`the diaphragm in the piezoresistive sensor varies with the
`diaphragm bending in the capacitive sensor. These changes
`are converted to electrical signals by means of an electronic
`circuit connected to the sensor. The piezoresistive sensor
`shows a linear change over a wide pressure range and the
`output resistance is low, so there is no need for an amplifying
`
`MICROMACHINED CAPACITIVE SILICON PRESSURE SENSOR
`FOR INDUSTRIAL AND BIOMEDICAL APPLICATIONS
`
`Orhan Ş. AKAR * and Tayfun AKIN** *
`*TÜBİTAK-BİLTEN, Middle East Technical University
`"Middle East Technical University, Department of Electrical and Electronics Engineering
`
`
`intermediate circuit for measurement. However, because the
`diaphragm cannot be made too thin due to the resistances
`placed on it, the sensor has a low sensitivity to pressure [2]
`and the capacitive sensor has some advantages over the
`piezoresistive sensor. Diaphragm formation in the capacitive
`sensor is easier and more flexible than piezoresistive ones.
`The pressure sensitivity of the structure is better and it is 10
`times less sensitive to temperature. As the sensor part
`consists of only a capacitor, the power consumption is very
`low. In addition to these, capacitive pressure sensors show
`higher performance compared to piezoresistive ones, given
`the high sensitivity, low pressure range and long durability
`[3,4],
`In this paper, the capacitive pressure sensors that we
`design at ODTU and which we produce in the semiconductor
`laboratory of the University of Michigan are described.
`Some of these sensors have been developed for industrial
`applications and the rest for biomedical applications. Both
`types of sensors are manufactured in the same fabrication
`process and using the same masks.
`
`THE STRUCTURE OF
`MICROMACHINED SILICONE
`PRESSURE SENSOR
`The structure of the pressure sensors made by using
`silicon micromachining technology is shown in Figure 1 and
`Figure 2.
`Diaphragm
`
`Additive silicon
`
`Insulating
`layer
`
`
`
`Metal field
`Glass base
`Figure 1: Cross-sectional view of the capacitive pressure
`sensor
`Figure 1 shows the cross section of the capacitive sensor
`to be used in industrial applications. A silicon component
`determined by boron deposition is placed on a glass base.
`The metal area on the glass, boron doped silicon, and the
`2um space between these two surfaces form a capacitor.
`Figure 1 shows two capacitor structures. The left capacitor
`has a 6um thin aperture. When a pressure is applied, this
`diaphragm bends down to the underlying metal, which
`increases the capacitance value of the structure. In this way,
`pressure change leads to capacitance change. Diaphragm
`relative to the capacitor located on the right in Figure 1 Since
`it is thicker (15um), there is no change in this capacitor under
`pressure. Capacitance value of this capacitor when the
`pressure is not applied, it is the same as the changing
`
`ELECTRICAL, ELECTRONICS, COMPUTER ENGINEERING 7th NATIONAL CONGRESS
`
`
`
`83
`
`
`
`Abbott
`Exhibit 1027
`Page 015
`
`

`

`
`capacitor on the left. This capacitor is used as a reference
`capacitor and is sensitive to electronic measuring as it allows
`reading [5].
`
`Figure 2 shows the section of the pressure sensor
`developed for biomedical applications. The principle of the
`silicon part construction and the capacitance change is the
`same as the previous sensor structure. However, there is a
`coil placed by the electroplating method inside the glass part
`of this sensor.
`
`Diaphragm
`
`Glass base
`
`Variable capacitor
`
`Coil
`
`
`Figure 2: Cross-sectional representation of the capacitive
`pressure sensor produced with the coil structure and
`corresponding circuit diagram.
`This coil forms a LC resonant circuit with the variable
`capacitor. The resonance frequency of this circuit depends
`on the value of the capacitor, i.e. the pressure. It is, therefore,
`sufficient to measure the change in the vibration frequency
`of the LC circuit to measure the pressure change. This is
`possible by using an external LC circuit. When the coil of
`the outside resonant circuit is approached to the sensor coil,
`it provides an inductive coupling. In this way, the LC circuit
`inside the body loads the LC circuit outside the body. This
`loading is most likely to be the resonant frequency of the LC
`circuit in the body. Therefore, the resonance frequency of the
`LC circuit in the body is measured by some kind of telemetry
`method without using a wire interconnection. This method is
`preferred since it does not have a wire connection and allows
`for the exchange of signals without interrupting the skin
`[6,7].
`
`Silicon
`
`SiO2
`Silicon
`erosion with
`KOH
`
`SiO2
`
`15nm deep
`boron deposition
`
`2.5|im or 6μm
`shallow boron
`deposition,
`diaphragm
`forming
`
`Thin silicon
`dioxide for short
`circuit protection
`
`glass
`flake
`
`Electrostatic
`bonding and silicon
`abrasion
`
`
`
`Figure 3: Sectional view of the production steps of the
`silicon part of the capacitive pressure sensor.
`
`continuation of this, the diaphragm zone is doped with boron
`atoms with a thickness of 6um. The diaphragm surface is
`coated with a very thin oxide layer to prevent the diaphragm
`from over-twisting under very high pressure to short circuit
`with the other plate. Silicon flake surface is eroded in
`potassium hydroxide (KOH) solution from these openings
`determined by masking on silicon flake. The etching process
`creates a 2pm interval between the plates of the capacitor.
`Then, the regions that support the diaphragm edges which
`are at a high
`
`PRODUCTION PROCESS OF PRESSURE SENSOR
`Capacitive pressure sensor is produced in two steps on
`silicon and glass flake (wafer). 4 silicon flakes were used
`during production and 3 masks were used for glass flakes.
`Figure 3 shows the process steps on silicon. The first
`process is covered with a silicon dioxide layer in such a way
`that the silicon flake surface is exposed to the diaphragm.
`The silicon flake surface is etched in potassium hydroxide
`(KOH) solution from these openings, which are masked by
`photoresist. The etching process creates a 2pm interval
`between the plates of the capacitor. Then, the regions that
`support the diaphragm edges which are at a high density
`from the silicon flake surface to a depth of 15um (5*1019
`atoms/cm3), are formed by boron additive atoms. In the
`
`
`
`
`
`84
`
`
`
`ELECTRICAL, ELECTRONICS, COMPUTER ENGINEERING 7th NATIONAL CONGRESS
`
`Abbott
`Exhibit 1027
`Page 016
`
`

`

`sensors. 12 sensors measuring different pressure ranges are made
`in an area of 11.7 x 8.6mm2 with the same masks and in the same
`productio

This document is available on Docket Alarm but you must sign up to view it.


Or .

Accessing this document will incur an additional charge of $.

After purchase, you can access this document again without charge.

Accept $ Charge
throbber

Still Working On It

This document is taking longer than usual to download. This can happen if we need to contact the court directly to obtain the document and their servers are running slowly.

Give it another minute or two to complete, and then try the refresh button.

throbber

A few More Minutes ... Still Working

It can take up to 5 minutes for us to download a document if the court servers are running slowly.

Thank you for your continued patience.

This document could not be displayed.

We could not find this document within its docket. Please go back to the docket page and check the link. If that does not work, go back to the docket and refresh it to pull the newest information.

Your account does not support viewing this document.

You need a Paid Account to view this document. Click here to change your account type.

Your account does not support viewing this document.

Set your membership status to view this document.

With a Docket Alarm membership, you'll get a whole lot more, including:

  • Up-to-date information for this case.
  • Email alerts whenever there is an update.
  • Full text search for other cases.
  • Get email alerts whenever a new case matches your search.

Become a Member

One Moment Please

The filing “” is large (MB) and is being downloaded.

Please refresh this page in a few minutes to see if the filing has been downloaded. The filing will also be emailed to you when the download completes.

Your document is on its way!

If you do not receive the document in five minutes, contact support at support@docketalarm.com.

Sealed Document

We are unable to display this document, it may be under a court ordered seal.

If you have proper credentials to access the file, you may proceed directly to the court's system using your government issued username and password.


Access Government Site

We are redirecting you
to a mobile optimized page.





Document Unreadable or Corrupt

Refresh this Document
Go to the Docket

We are unable to display this document.

Refresh this Document
Go to the Docket